ogp影像仪VIEW Summit 450/600 大量程、高精度影像测量系统 VIEW Summit的高精度和迅捷的测量速度专为近线生产工艺监控和质量保证应运而生。其200 mm/秒的XY平台移动速度以及可选配的X-Y无阻力线性马达驱动（可达400mm/秒），保证了车间环境中超高的生产力。

VIEW Benchmark 450 高价值、高精度影像测量系统 拥有大气测量外观的非接触式光学测量仪体现了VIEW的性能和风范。其450 x 450 mm的大行程平台，既适合测量大号的工件，也可一次批量测量多个小零件组。良好的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使Benchmark 450成为世界*的计量系统。

VIEW MicroLine 300 MicroLine 300 关键尺寸的自动化光学测量系统 MicroLineTM 300是一款高性能测量晶圆、光罩、MEMS和其他微加工设备等关键尺寸的自动化测量系统。该系统配备了高质量光学显微镜和精密移动平台，可对200mm的晶圆上0.5µm到400µm的特征尺寸进行全自动的精密视场测量。

VIEW Pinnacle 250 高产出、高精度尺寸测量系统 EW Pinnacle 250影像测量仪有着非凡的精度和生产率，优异的MTBF性能，以及在同类型自动测量系统中Z低的购置成本。其*的可编程多色环形灯（PRL）选项运用红、绿、蓝、白LED照明，可轻松应对Z苛刻的应用。

VIEW Benchmark 250 紧凑型高精度影像测量系统可满足你所期望的VIEW Micro-Metrology台式测量机带来的高性能和可靠性。良好的光学、照明、可选配的TTL激光、以及图像处理能力使其成为世界*的计量系统。