Vcsel芯片隐裂（cracks）、InGaAs瑕疵红外无损检测

法拉第激光隔离器胶合偏振片无损检验

die chip ， IC 失效分析

Wafer正反面定位标记重合误差无损测量

硅基半导体Wafer、碲化镉CdTe、碲镉汞HgCdTe衬底 缺陷无损红外检测

对太阳能电池/组件加载电压后，使之发光，再利用近红外相机摄取其发光影像，因电致发光亮度正比于少子扩散长度，缺陷处因具有较低的少子扩散长度而发出较弱的光，从而形成较暗的影像。