ZEISS O-INSPECT 442 蔡司复合式测量机 O-INSPECT442多探头测量系统，测量行程：400mm X 400mm X 200mm，称作是四机一体的双测头测量机，提供了非常精确的测量结果，以Z佳的重现性，在可以评定是否形状，位置公差范围内和出测量结果报告；O-INSPECT，光学和接触式两种量测可以同在一台测量机。

蔡司扫描电镜ZEISS O-INSPECT 322 蔡司复合式测量机 O-INSPECT332多探头测量系统，测量行程：300mm X 200mm X 200mm ，可称作是四机一体的双测头测量机，提供了非常精确的测量结果，以Z佳的重现性，在可以评定是否形状，位置公差范围内和出测量结果报告.