徕卡偏光显微镜是用于研究所谓透明与不透明各向异性材料的一种显微镜，观察具有双折射的物质。将普通光改变为偏振光进行镜检的方法，以鉴别某一物质是单折射（各向同行）或双折射性（各向异性）。双折射性是晶体的基本特性。因此，偏光显微镜被广泛地应用在矿物、化学等领域，在生物学，植物学和液晶研究上也有应用。徕卡偏光显微镜的操作步骤：
(1)按“显微镜观察玻片标本时的注意事项”所述的有关操作步骤和方法，分别用反光镜的平面镜和凹面镜对光。努力使视野中呈现一个处处一样亮的正目形。同时比较平面镜与凹面镜的反光能力的强弱。
(2)任选一种根或茎的切片标本，用钢笔在其盖玻片表面涂一直径约为1mm的圆点，按前面所述的有关操作步骤安放和移动切片标本，使这一圆点正对低倍镜。然后用低倍镜检查。若发现视野中未见有目点区域，则调整圆点的位置，直至它进人了视野，这时总结经验教训，并随意移开圆点，重新使之正对低倍镜。争取一次对准。
(3)将偏光显微镜聚光镜升至其顶面与载物台表面几乎齐平处停下，然后一面向左旋拨光圈的小柄，一面观察视野里照明度的变化，直至小柄到达终点。再一面向右旋拨光圈的上柄，一面观察视野里照明度的变化，直至小柄到达终点。
(4)将光圈扩至大后停下，然后一面级级下降聚光镜，一面观察视野中明度的变化，直至偏光显微镜聚光镜降至其低位。再一面级缓上升聚光镜。一面观察视野中照明度变化，直至聚光镜升至与载物台儿乎齐平为止。
(5)调出偏光显微镜观察切片标本的焦距，调好后试探一下，将低倍物镜降至什么程度，才能使标本的影像消失。
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